13104709993
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Nanolink S901系列是真理光學在SZ900基礎上基于多年的科研成果開發(fā)的新一代納米粒度分析系統(tǒng)，采用動態(tài)光散射(DLS)技術進行納米粒度測量，被廣泛應用于有機或無機納米顆粒、乳液、高分子聚合物、膠束、病毒抗體及蛋白質等樣品的顆粒表征及樣品體系穩(wěn)定性及顆粒團聚傾向性的檢測和分析。
Nanolink S901的性能和主要特點包括：
◆ 經(jīng)典90°動態(tài)光散射技術測量粒徑，測量范圍覆蓋0.3nm – 15μm
◆ 加持自動恒溫技術的功率可達50mW, 波長638nm的固體激光光源，儀器即開即用
◆ 激光光源與照明光及參考光的一體化及光纖分束技術
◆ 信號光與參考光的光纖合束及干涉技術
◆ 集成光纖技術的高靈敏度和極低暗電流(20cps)的光子檢測器
◆ 常規(guī)溫度控制范圍可達-15°C~120°C,精度±0.1°C
◆ 新一代高速數(shù)字相關器，動態(tài)范圍大于1011
◆ 冷凝控制 – 干燥氣體吹掃技術
技術指標：
| 測量原理 | 動態(tài)光散射（DLS）、靜態(tài)光散射（SLS）、電泳光散射（ELS） |
| 粒徑測量角度 | 90°，12°（Zeta電位） |
| 粒徑測量范圍 | 0.3nm -15um* |
| 粒徑測量最小樣品量 | 3ul* |
| 粒徑測量最小樣品濃度 | 0.1mg/ml |
| 粒徑測量最大樣品濃度 | 40%/wv** |
| 檢測點位置 | 距入射點0~5mm可調 |
| 檢測點定位精度 | 0.01mm |
| Zeta電位測量技術 | 余弦擬合位相分析法（CF-PALS） |
| Zeta電位測量范圍 | 無實際限制 |
| 適用Zeta電位測量的粒徑 | 1nm - 120μm* |
| 遷移率范圍 | 最小0，最大無實際限制 |
| 最大電導率 | 270mS/cm |
| 電極 | 插入式平板電極、U型毛細管電極 |
| 分子量范圍 | 340Da - 2x107Da |
| 其它高級測量/計算功能 | 介質粘度、折光率、樣品透過率/濃度、第二維利系數(shù)、顆粒間相互作用力系數(shù)和聚集度指數(shù) |
| 光源 | 集成恒溫系統(tǒng)及光纖耦合的最大功率50mW, 波長638nm固體激光器 |
| 光強度調整范圍 | 自動調節(jié)，0.0001%～100% |
| 相關器 | 高速數(shù)字相關器，自適應通道配置 |
| 檢測器 | 高靈敏度APD |
| 溫度控制范圍 | -15°C ~ 120°C |
| 溫度控制精度 | ±0.1°C |
| 進樣方式 | 手動/自動 |
| 樣品池（選配） | 12mm比色皿、3μL毛細管超微量樣品池、40μL微量樣品池 |
| 環(huán)境要求 | 5-40℃，10%-80%相對濕度（無凝結） |
| 工作電源 | AC100V-240V，標準接地，直流電源供電24V/5A |
| 系統(tǒng)重量 | 16kg |
| 外形尺寸 | 365mm x 475mm x 180mm (LxWxH) |
注：* 取決于樣品及樣品池選件 ** 取決于測量角度
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